HQR系列 高Q腔法测试系统
- 频率范围：7GHz ～ 18GHz
- 测试温度：室温 ～ 1600℃
- 电磁参数测试范围：
εr'= 1～10
tanδε=1.0×10-4～3×10-2
- 常温测试误差：
|△εr'/εr'| ≤ 2.0 % 当εr'= 2 ～ 10
|△εr'| ≤ 1.8 % × εr'+ 0.02 当εr' = 1.05 ～ 2
|△tanδε| ≤ 15 % tanδε + 8×10-5
- 电磁参数测试范围：
εr'= 1～10
tanδε=1.0×10-4～3×10-2
- 常温测试误差：
|△εr'/εr'| ≤ 2.0 % 当εr'= 2 ～ 10
|△εr'| ≤ 1.8 % × εr'+ 0.02 当εr' = 1.05 ～ 2
|△tanδε| ≤ 15 % tanδε + 8×10-5
简 介
HQR系列高Q腔法测试系统是为低损耗材料、小样品高精度测试等需求而开发的一款高性价比的材料测试装置。HQR融合矢量网络分析仪和测试夹具于一体，可进行7GHz到18GHz频率范围内的微波复介电常数和复磁导率测试。该系列产品体积小，节约空间、接线简单、精度高、接口丰富，在大规模工厂生产测试以及科研实验中都能发挥十分重要的作用。
