TRL系列 传输反射法测试系统
- 频率范围：500MHz ～ 40GHz
- 测试温度：室温 ～ 500℃
- 电磁参数测试范围：
εr'= 2～100，εr''= 0.2～200
µr'= 0.5～10，µr'' = 0.05～20
- 常温测试误差：
|△εr'/εr'| ≤12 %
|△tanδε| ≤12 % tanδε + 0.07
|△µr'/µr'| ≤ 12 %
|△tanδµ| ≤ 12 % tanδµ+ 0.07
- 电磁参数测试范围：
εr'= 2～100，εr''= 0.2～200
µr'= 0.5～10，µr'' = 0.05～20
- 常温测试误差：
|△εr'/εr'| ≤12 %
|△tanδε| ≤12 % tanδε + 0.07
|△µr'/µr'| ≤ 12 %
|△tanδµ| ≤ 12 % tanδµ+ 0.07
简 介
TRL系列传输反射法测试系统是为高损耗材料、大样品测试等需求而开发的一款高性价比的材料测试平台。TRL融合矢量网络分析仪和测试夹具于一体，可进行500MHz到40GHz频率范围内的微波复介电常数和复磁导率测试。该系列产品体积小，节约空间、接线简单、精度高、接口丰富，在大规模工厂生产测试以及科研实验中都能发挥十分重要的作用。
